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工业白皮书

如何成功校准开环DAC信号链

2021年3月23日经过模拟设备 下载PDF.

白皮书概述

DAC信号链的监控和测试是开环应用的重要考虑因素。DAC信号链中的错误,包括根据系统的DAC内在误差,可以显着扰乱客户设计体验。

在此WhitePaper中,从模拟设备中了解AD5679 / 74系列,该系列提供比电流8通道部件更高的通道密度,同一4x4 LFCSP足迹。读者还将学习该系列如何减少所需的耦合电容数的数量,并且通常总体上简化了布局要求,允许一般的DAC信号测试方法。

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