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PN结

半导体分立器件与电路

  • 问题1

    别光坐在那儿!构建的东西! !


    学习数学分析电路需要大量的学习和实践。通常情况下,学生通过做大量的例题并对照课本或老师提供的答案进行练习。虽然这很好,但还有更好的方法。

    你会学到更多建立和分析实际电路让你的测试设备来提供“答案”,而不是书本或其他人。对于成功的电路构建练习,遵循以下步骤:

    1. 在电路构造之前仔细测量和记录所有元件的值,选择足够高的电阻值,使任何有源元件不太可能受到损坏。
    2. 画出待分析电路的原理图。
    3. 在面包板或其他方便的介质上仔细地构造这个电路。
    4. 检查电路构造的准确性,沿着每根电线到每一个连接点,并在图上逐个验证这些元件。
    5. 数学分析电路,解决所有的电压和电流值。
    6. 仔细测量所有电压和电流,以验证您分析的准确性。
    7. 如果有任何实质性的错误(大于几个百分点),仔细检查你的电路结构与图表,然后仔细地重新计算值和重新测量。

    当学生第一次学习半导体器件时,他们很可能因为电路连接不当而损坏半导体器件,我建议他们使用大的、高瓦数的组件(1N4001整流二极管、to -220或to -3外壳功率晶体管等),使用干电池电源而不是台式电源。这降低了部件损坏的可能性。

    通常,避免非常高和非常低的电阻值,以避免测量误差引起的仪表“负载”(在高端)和避免晶体管烧坏(在低端)。我推荐电阻在1 kΩ和100 kΩ之间。

    节省时间和减少出错可能性的一种方法是,从一个非常简单的电路开始,然后在每次分析后逐步添加组件以增加其复杂性,而不是为每个实践问题构建一个全新的电路。另一种节省时间的技术是在各种不同的电路配置中重复使用相同的组件。这样,您就不必重复度量任何组件的值。

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  • 问题2

    PN结的电压和电流之间的关系可以用这个方程来描述,有时也被称为“二极管方程”,或以其发现者的名字命名的“肖克利二极管方程”:


    $ $ I_D = I_S (e ^{\压裂{qV_D} {NkT}} 1) $ $



    在那里,

    D=通过PN结的电流,单位为安培

    年代= PN结饱和电流,在安培(一般为1皮安)

    e =欧拉数≈2.718281828

    q =电子单位电荷1.6 ×10−19库仑

    VD通过PN结的电压,单位为伏特

    N =非理想系数,或发射系数(通常在1和2之间)

    k =玻尔兹曼常数,1.38 ×10−23

    T =结温,开氏度

    一开始,这个方程可能看起来很吓人,直到你意识到它实际上只有三个变量:ID, VD其他项都是常数。因为在大多数情况下,我们假设温度是相当恒定的,我们实际上只处理两个变量:二极管电流和二极管电压。基于这一认识,将方程改写为比例关系而不是等式,显示二极管电流和电压这两个变量之间的关系:


    D



    基于这个简化的方程,PN结点的I/V图会是什么样子?这个图与电阻的I/V图相比如何?




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  • 问题3

    气体放电电光特有的彩色辉光是气体原子中的电子从高能级“激发态”下降到自然(基态)态时发出的能量的结果。作为电子行为的一般规则,它们必须从外部来源吸收能量以跃入更高的水平,然后在返回到原始水平时释放能量。

    考虑到这种现象的存在,当PN结导电时,你怀疑会发生什么?

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  • 问题4

    当“P”型半导体片与“N”型半导体片紧密接触时,“N”型半导体片中的自由电子会冲过来填补“P”型半导体片中的空穴,在接触区两侧形成一个没有载流子的区域。这个区域叫什么?它的电特性是什么?

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  • 问题5

    当外部电压施加到PN结上时,耗尽区厚度会发生什么变化?

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  • 问题6

    这里显示了两个能量图:一个是“P”型半导体材料,另一个是“N”型半导体材料。





    接下来是一个能量图,展示了最初的说明这两块半导体材料什么时候接触到彼此。这被称为aflatband图





    “平坦带”图所代表的状态绝对是暂时的。在没有外加电场的情况下,这两个不同的费米能级是不相容的。

    画一个新的能量图,表示两个费米能级相等后的最终能量状态。

    注意:Ef表示费米能级,而不是电压。在物理学中,E总是代表能量,V总是代表电势(电压)。

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  • 问题7

    画一个PN半导体结在a影响下的能量图反向外部电压。

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  • 问题8

    画一个PN半导体结在a影响下的能量图向前外部电压。

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  • 问题9

    画一个PN半导体结的能量图,显示电子和空穴传导电流的运动。

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  • 问题10

    这是二极管正向偏压反向偏置




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  • 问题11

    按照正确的方向在电路原理图中插入一个二极管正向偏压由电池电压:




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  • 问题12

    大多数入门教科书会告诉你,硅PN结下降0.7伏特时正向偏置,和锗PN结下降0.3伏特时正向偏置。设计一个电路来测试“正向电压”(VF),因此您可以自己测量电压,而无需使用专门的二极管测试仪表。

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  • 问题13

    如果半导体PN结是反向偏置的,理想情况下没有连续电流通过它。然而,在现实生活中,会有少量的反向偏置电流通过结。这怎么可能?是什么让反向电流流动?

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  • 问题14

    标准形式的肖克利二极管方程很长,但在室温条件下可以大大简化。注意,如果假定温度(T)为室温(25oC),方程中有三个常数对所有PN结都是一样的:T, k,和q。

    $ $ I_D = I_S (e ^{\压裂{qV_D} {NkT}} 1) $ $

    数量\(\frac{kT}{q}\)称为热电压结。在室温为25的情况下,计算这个热电压的值oC.然后将这个量代入原来的“二极管公式”,使其外观简化。

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  • 问题15

    一个学生建立了一个类似这样的电路,以收集数据来描述一个二极管:





    测量二极管电压和二极管电流在这个电路中,学生产生下列数据表:


    V二极管 二极管

    0.600 V 1.68马

    0.625 V 2.88马

    0.650 V 5.00马

    0.675 V 8.68马

    0.700 V 14.75马

    0.725 V 27.25马

    0.750 V 48.2马




    该学生知道PN结的行为遵循肖克利二极管方程,该方程可以简化为以下形式:


    $I_{diode} = I_S(e^{\frac{V_{diode}}{K}} -1)$



    在那里,

    K =一个包含热电压和非理想系数的常数

    这个实验的目的是计算K和I年代,因此,二极管的电流可以预测任何任意值的电压降。然而,在学生继续进行之前,方程必须进行一点简化。

    在相当大的电流水平下,指数项比单位\((e^{\frac{V_{diode}}{K}}>>1)\)大得多,因此方程可以简化为:


    $ $ I_{二极管}\大约I_S (e ^{\压裂{V_{二极管}}{K}}) $ $



    从这个方程,确定学生将如何计算K和I年代从表中显示的数据。同时,解释该学生如何验证这些计算值的准确性。

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  • 问题16

    为了简化包含PN结的电路的分析,我们假设任何导体结都有一个“标准”正向电压降,具体数字取决于结是由什么半导体材料制成的。

    假设在导体上降低多少电压PN结吗?对正向偏置的电压假设是多少PN结吗?找出导致PN结实际正向电压降偏离其“标准”数字的一些因素。

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  • 问题17


    ∫f (x) dx微积分警报!


    正偏PN半导体结不具有与电阻器或一段导线相同的“电阻”。因此,任何将欧姆定律应用于二极管的尝试,从一开始就注定要失败。

    这并不是说我们不能赋值a动态然而,PN结的电阻值。电阻的基本定义来自欧姆定律,它以导数形式表示为:

    $ $ R = \压裂{dV} {dI}

    PN结中有关电流和电压的基本方程是肖克利二极管方程:

    $I = I_S(e^{\frac{qV}{NkT}} -1)$

    在室温下(约21摄氏度,或294摄氏度),PN结的热电压约为25毫伏。用1代替非理想系数,我们可以简单地得到二极管方程如下:

    $ $ I = I_S (e ^{\压裂{V} {0.025}} 1 ) \ \ \ \ \ \ \ \ \ \ 或 \ \ \ \ \ \ \ \ \ \ I = I_S (e ^ {40 v} - 1) $ $

    将该方程对V求导,求出\(\frac{dI}{dV}\),再反过来求出PN结动态电阻\((\frac{dV}{dI})\)的数学定义。提示:饱和电流(I年代)对于大多数二极管来说是一个非常小的常数,最终的方程应该用热电压(25 mV)和二极管电流(I)来表示动态电阻。

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  • 问题18

    测量硅整流二极管(如1N4001型)的正向电压降。测量的正向电压降与通常为硅PN结假定的“理想”数字有多接近?当你用手指握住二极管来增加它的温度时会发生什么?当你用冰块接触二极管来降低它的温度时会发生什么?

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  • 问题19

    PN结的不导电耗尽区在P和N半导体区之间形成寄生电容。当PN结上施加更大的反向偏置电压时,电容是增加还是减少?解释你的答案。

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